最近，我写了一篇关于芯片性能问题的文章，这让我开始思考。那里讨论的问题的根本原因与一个在高温高压下特别容易受到可靠性老化的时钟树电路有关。芯片老化效应一直吸引着我的注意。在我的职业生涯中，我经历过几次这样的情况，用一个词来形容，那就是激动人心，也许有些可怕。

这种故障在设计中就像一颗定时炸弹。许多芯片设计中都存在许多这样的潜在问题。大多数不会引发，但一旦发生，事情会迅速变得复杂。我在上篇文章的结尾提到了Infinisim，以及该公司技术可能避免了讨论中的问题。我决定进一步深入研究这个话题，以更好地了解时钟性能中的动态。于是，我联系了公司的联合创始人兼首席技术官。我得到的是一堂关于良好设计实践和良好公司战略的专家课程。我想分享我与Infinisim的对话以及为什么良好足够不再是足够。

接下来，文章介绍了Infinisim公司及其提供的一系列解决方案，包括SoC时钟分析、时钟抖动分析和时钟老化分析。然后，作者与Infinisim的联合创始人兼首席技术官Dr. Zakir H. Syed进行了对话，讨论了公司如何帮助客户避免潜在的问题，以及行业接受次优性能的趋势。Dr. Syed强调了使用先进工具进行芯片设计的战略价值，以增强盈利能力和竞争力。